天津可靠性阻抗测试系统CAF测试系统操作

那么这个高温高湿试验具体到底是怎么测试的呢？首先IPC标准中有明确要求，具体的测试条款为IPC-TM-650 2.6.25 《Conductive Anodic ****ment (CAF) Resistance》。另外各大**汽车零部件厂商如德尔福、博世、大陆等也有其专门的企业测试标准，主要测试内容就是将考试板放置在85℃，85%RH的环境中处理1000小时，并在考试板的孔与孔之间、线与线之间，或者是孔与内层之间、层与层之间施加一定的电压，然后持续监控其绝缘阻值变化，通过绝缘阻值变化了解其内部可能存在的一系列问题，而这种测试**常见的缺陷就是板材内部出现了CAF现象。常州中策仪器有限公司拥有CAF测试系统，若有需要，欢迎联系我们。天津可靠性阻抗测试系统CAF测试系统操作

PCB作为汽车电子中承载电子元器件的母体，汽车电子的快速增长带来相应车用PCB需求量的快速增长。中国汽车电子市场很大程度上由世界**汽车零部件厂商如德尔福、日本电装、博世、大陆等巨头占领。一些国内PCB制造商正积极布局车用PCB领域，但其中通过上述汽车零部件厂家认证的不多。

简单地说，在60s内收集的萃取液的漏电流值不超过500μA，判定为“clean”；在60s内超过500μA，则为“dirty”。典型的测试曲线如图5所示。整个测试过程不超过15分钟。可以看出C3是一种快速定性的分析方法，针对的不是整板，而是一般会分析焊盘和通孔这种局部区域。要进一步定量分析，可以把收集的萃取液注入到离子色谱仪中，能分析出局部区域上残留离子的种类和含量。 上海汽车电子可靠性CAF测试系统使用方法常州中策仪器有限公司拥有CAF测试系统；若有需要欢迎来电噢！

同样的案例还有广东某客户来样进行CAF项目的可靠性测试，测试结束后发现样品绝缘阻值失效现象很严重，于是要求进行后续的失效分析。通过对该考试板样品的表面观察，发现了很多的树枝状生长，从类型上看应该属于表面迁移的现象，但是由于迁移出现的位置比较特殊，我们便进行了放大观察，感觉该迁移的生长并非在样品表面，而是在接近表面的阻焊油墨中间。为了验证假设，我们对样品表面进行了微蚀处理，按照以往的经验，如果该迁移确实在表面，那应该是可以直接被微蚀掉的。

（3）水解时间的确定1）外加偏压500V时的电化学迁移时间在①中，已经证明了水解这一过程在无外加偏压的情况下也会发生。假设在双85条件（温度85℃、湿度85%RH）无外加偏压下放置96h后，孔壁间距0.2mm-0.35mm的模块均已完成了水解过程，形成了铜离子迁移的通道。再对所有模块施加500V的外加偏压，即得到500V下的电化学迁移时间。试验得出，设计孔壁间距0.2mm-0.35mm的模块在外加偏压500V时的电化学迁移时间均在0.5小时以内，相对于总失效时间可以忽略不计。2）水解时间的确定对选用材料A制作的试验板进行CAF试验（双85条件，外加偏压500VDC），即可近似得到设计孔壁间距0.2mm-0.35mm下的水解时间，中策仪器有限公司拥有CAF测试系统，若有需要，欢迎来电。

全自动耐电流测试仪可以用于自动寻找PCB孔链导通可靠性测试样品的耐电流测试合适的电流参数。仪器采用高精度的电源模块和温度以及电阻采集模块，对PCB孔链测试样品,自动尝试不同的电流,循环进行升温,冷却的过程,并实时监测孔链的温度，电流，以及电阻。直到找到合适的电流,PCB孔链样品在此电流下，达到测试要求。全自动耐电流测试仪也可以用于PCB孔链的耐电流测试。全自动耐电流测试仪测试过程中，仪器自动完成测试探头移动，对位，上下，样品的参数测试和批量测试，样品冷却，数据保存和记录，数据统计分析，以及测试报告的输出等。全自动耐电流测试仪，采用人工上板或配置机械手自动上板，按照设定的测试程序，自动移动测试探头和CCD自动对位，进行测试，测试完成后人工下板或自动下板。常州中策仪器有限公司创建于1999年，是一家集研发、制造、营销于一体的****，欢迎来电咨询哦；四川第三方检测CAF测试系统

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平均CAF失效时间的分解分析从上面的一系列试验中，可以证明水解时间和电化学迁移时间之间是相互独立的，水解时间和电化学迁移时间互相没有影响：①未施加偏压的情况下，水解过程也可进行；在施加外加偏压的情况下，水解速度无明显加快或延缓；水解时间与外加偏压无关。②指定板材、孔壁间距下的水解时间是一定的，且随着孔壁间距的上升而近似成正比关系上升。因此平均CAF失效时间可以拆分成水解时间和电化学迁移时间分别进行分析和试验。那么以下公式应是成立的：平均CAF失效时间（MTF）=水解时间（T1）+电化学迁移时间（T2）。当外加偏压较大（100V以上）时，电化学迁移速度快于水解速度，平均CAF失效时间（MTF）主要取决于水解时间（T1），接近于材料A在指定孔壁间距下的水解时间；当外加偏压较小（10V以下）时，水解速度快于电化学迁移速度，平均CAF失效时间（MTF）主要取决于电化学迁移时间（T2）。而水解时间（T1）不受外加偏压影响，电化学迁移时间（T2）受外加偏压影响，因此图5中的曲线随着外加偏压的变化呈现两段趋势。天津可靠性阻抗测试系统CAF测试系统操作

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